عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
Defect and microstructure analysis by diffraction
پدید آورنده
Snyder, R. L. )Robert L.(
موضوع
، Crystals-- Defects-- Analysis,، Diffraction,، X-ray crystallography
رده
QD
945
.
S58
1999
کتابخانه
كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
66005817
-
021
121981
125244
پاییز۹۷
English
)40-70(
Snyder, R. L. )Robert L.(
1941-
Defect and microstructure analysis by diffraction
Oxford
Oxford University Press
1999
xxii, 785 p.: ill.; 24 cm
International Union of Crystallography monographs on crystallography
10
Includes bibliographical references and index
، Crystals-- Defects-- Analysis
، Diffraction
، X-ray crystallography
QD
945
.
S58
1999
AU
Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge
AU valsoraJ ,alaiF
AU (mihcaoJ snaH) .J-.H ,egnuB
TI
SE
07
04
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح