عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7870 .25 .L35 1997
TK
7870
.
25
.
L35
1997
کتابخانه
محل استقرار
118603
پائیز۸۷
English
)50(
Lall, Pradeep
Influence of temperature on microelectronics and system reliability
Boca Raton
CRC Press
1997
307 p.: ill.; 26 cm
Includes bibliographical references and index
، Microelectronics-- Materials-- Thermal properties
، Electronic packaging
، Elctronic apparatus and appliances-- Reliability
TK
7870
.
25
.
L35
1997
AU
Pradeep Lall, Michael G. Pecht, Edward B. Hakim
AU .G leahciM ,thceP
AU .B drawdE ,mikaH
TI
05
