عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7874 .H8842 1998
TK
7874
.
H8842
1998
کتابخانه
محل استقرار
116229
زمستان۷۷
English
)91(
Hurst, Stanley Leonard
VLSI testing: digital and mixed analogue/digital techniques
London
The Institution of Electrical Engineers
1998
xx, 532 p.: ill.; 24 cm
IEE Ciruits, devices and systems; 9
Includes index
، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction-- Data processing
TK
7874
.
H8842
1998
AU
Stanley L Hurts
TI
SE
129
