عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
High-level test synthesis of digital VLSI circuits
پدید آورنده
Lee, Mike Tien-Chien
موضوع
، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction-- Data processing,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing,، Computer-aided design,، Digital integrated circuits-- Testing-- Data processing
رده
TK
7874
.
75
.
L44
1997
کتابخانه
كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
66005817
-
021
112590
تابستان۶۷
English
)91(
Lee, Mike Tien-Chien
High-level test synthesis of digital VLSI circuits
Norwood, MA
Artech House
1997
xi, 220 p.: ill.; 24 cm
Includes bibliographical references and index
، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction-- Data processing
، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing
، Computer-aided design
، Digital integrated circuits-- Testing-- Data processing
TK
7874
.
75
.
L44
1997
AU
Mike Tien-Chien Lee
TI
129
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح