• الرئیسیة
  • البحث المتقدم
  • قائمة المکتبات
  • حول الموقع
  • اتصل بنا
  • نشأة

عنوان
High-level test synthesis of digital VLSI circuits

پدید آورنده
Lee, Mike Tien-Chien

موضوع
، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction-- Data processing,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing,، Computer-aided design,، Digital integrated circuits-- Testing-- Data processing

رده
TK
7874
.
75
.
L44
1997

کتابخانه
كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف

محل استقرار
استان: طهران ـ شهر: طهران

كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف

تماس با کتابخانه : 66005817-021

112590

تا‌بستا‌ن‌۶۷
English

)91(
Lee, Mike Tien-Chien
High-level test synthesis of digital VLSI circuits

Norwood, MA
Artech House
1997

xi, 220 p.: ill.; 24 cm

Includes bibliographical references and index

، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction-- Data processing
، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing
، Computer-aided design
، Digital integrated circuits-- Testing-- Data processing

TK
7874
.
75
.
L44
1997

AU
Mike Tien-Chien Lee

TI

129

الاقتراح / اعلان الخلل

تحذیر! دقق في تسجیل المعلومات
ارسال عودة
تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال