عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
عنوان
25th anniversary compendium of papers from International Test Conference
پدید آورنده
موضوع
، Integrated circuits-- Testing-- Congresses,، Electronic digital computers-- Circuits-- Testing-- Congresses
رده
TK
7874
.
I593
1994
کتابخانه
كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
66005817
-
021
111462
بهار۶۷
English
)91(
25th anniversary compendium of papers from International Test Conference
Los Alamitos, Calif.
IEEE Computer Society Press
1994
xv, 794 p. : ill. ; 28 cm
Spine title: Compendium of papers from International Test Conference
At head of title: 1970-1994
IEEE catalog number EH04085 ; IEEE Computer Society Press order number 6617-01--T.p. verso
Includes bibliographical references and index
، Integrated circuits-- Testing-- Congresses
، Electronic digital computers-- Circuits-- Testing-- Congresses
TK
7874
.
I593
1994
AU
edited by Paul H. Bardell ... ]et al.[
CO Institute of Electrical and Electronics Engineers
CO IEEE Computer Society
CO IEEE Computer Society. Philadelphia Chapter
TI Compendium of papers from International Test Conference
TI
International Test Conference )25th: 1994: Philadelphia, Pa.(
129
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح