عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
عنوان
Neural models and algorithms for digital testing
پدید آورنده
by Srimat T. Chakradhar, Vishwani D. Agrawal, Michael L. Bushnell
موضوع
Logic circuits - Testing,Automatic checkout equipment,Digital integrated circuits - Testing - Data processing
رده
TK
7868
.
L6C44
1991
کتابخانه
کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
61112227، 61112854 ، 61113031
لاتين
by Srimat T. Chakradhar, Vishwani D. Agrawal, Michael L. Bushnell
author
Neural models and algorithms for digital testing
Boston
Kluwer Academic
1991
xii, 184 p. : ill. ; 25 cm
مرجع به حساب نمي آيد
Includes bibliographical references and index
Logic circuits - Testing
Automatic checkout equipment
Digital integrated circuits - Testing - Data processing
TK
7868
.
L6C44
1991
مولف
Chakradhar, Srimat T.
Bushnell, Michael L.(Michael Lee)
Agrawal, Vishwani D.
1950-
1943-
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح