عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
عنوان
An artificial intelligence approach to test generation
پدید آورنده
by Narinder Singh
موضوع
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (computer science),Artificial intelligence
رده
TK
,
7874
,.
S533
,
1987
کتابخانه
کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان
محل استقرار
استان:
أذربایجان الشرقیة
ـ شهر:
تبریز
تماس با کتابخانه :
34327567
-
041
English Book
An artificial intelligence approach to test generation
by Narinder Singh
Boston
Kluwer Academic
1987
x, 193 P.; 25c.m
Bibliography: P. 189
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing
Expert systems (computer science)
Artificial intelligence
TK
,
7874
,.
S533
,
1987
Singh, Narinder 1956
Title
Series
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح