عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
کتابخانه
محل استقرار
9780387292
English Book
Fundamentals of nanoscale film analysis
Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
New York, N.Y.
Springer
2007
xiv, 336 p. ill
Includes bibliographical references and index
Thin films
Nanostructured materials
Alford, Terry L.
