عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
حول الموقع
اتصل بنا
نشأة
ورود / ثبت نام
عنوان
Fundamentals of nanoscale film analysis
پدید آورنده
/TerryL.Alford,Leonard C.Feldman,James W.Mayer,آلفورد,Alford
موضوع
لایههای نازک,مواد نانو ساختار
رده
QC
۱۷۶
/
۸۳
/
آ
۷
ف
۲ ۱۳۸۶
کتابخانه
سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
88644104
-
021
337128
337130
978-0-387-29260-1
۱۲۱۵۴۶۴
Fundamentals of nanoscale film analysis
/TerryL.Alford,Leonard C.Feldman,James W.Mayer
New York
:Springer
= 1386.
xiv ، 336 ص.
جدول، نمودار
انگلیسی.
فاندامنتالز آو نانواسکیلز...
لایههای نازک
مواد نانو ساختار
۶۲۱
/
۳۸۱۵۲
QC
۱۷۶
/
۸۳
/
آ
۷
ف
۲ ۱۳۸۶
آلفورد
Alford
، تری ال.
, Terry L.
فلدمن
Feldman
مایر
Mayer
، لئونارد سی.
, Leonard C.
، جیمز دبلیو.
, James W.
، ۱۹۳۰ - م.
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح